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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁(yè) 產(chǎn)品中心 電晶體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
分類
 
QT-3104 QG 閘極電荷測(cè)試

QT-3104 QG滿足SiC裝置微小QG值測(cè)試



支援雙DIE

過載欠壓保護(hù)

高精度測(cè)試

支援?dāng)U充

型號(hào) QT-3104 QG
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 滿足SiC裝置微小QG值測(cè)試
主要特點(diǎn) ? 測(cè)試能力:200A/150V 150A/1000V




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