第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-3104 QG 柵極電荷測試
QT-3104 QG滿足SiC器件微小QG值測試
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支持雙DIE |
過載欠壓保護 |
高精度測試 |
支持擴展 |
| 型號 | QT-3104 QG |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢 | 滿足SiC器件微小QG值測試 |
| 主要特點 | ? 測試能力:200A/150V 150A/1000V |
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