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第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
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分類
QT-3101 UIL 雪崩測試

QT-3101 UIL 雪崩測試適用于測試 MOSFET、IGBT、二極管的雪崩參數



支持雙DIE

快速充電

失效波形保存

鉗壓功能

型號 QT-3101 UIL
產品優(yōu)勢 支持 VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I) 測試
可與 QT-4100B 共用一臺電腦,實現測試程序和數據統(tǒng)一管理
可設定單脈沖、多脈沖或者雙 MOSFET 測試
輸出電流IDMAX 實時測量監(jiān)控和Energy讀取
電感內阻低,ID充電快,測試時間更短
內置示波器
主要特點 ? 輸出測量能力:最大測量 BVdss:±3000V 最大輸出 ID:±150V 、±200A
? 可編輯 VG MAX:±30V脈寬調節(jié)(分辨率:1us)
? 可編程電感箱負載 10μH-159.9mH 步進 10μH
? 可編程分選機接口信號 24 個