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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
分類
 
KGD（Known Good Die）測(cè)試解決方案

支援高溫常溫測(cè)試：DC+SW+UIL+DC&RG； 支援測(cè)試針卡保護(hù)方案； 提供測(cè)試+分選整套方案；



針卡保護(hù)

兩顆並測(cè)

高溫常溫

數(shù)據(jù)合併

型號(hào) KGD測(cè)試解決方案
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) ? 低雜散解決方案；
? 獨(dú)家針卡保護(hù)專利技術(shù)；
? 過載欠壓保護(hù)；
? 一次測(cè)試兩顆晶片；
? 支援高溫加熱




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