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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
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分類
 
QT-3102 熱阻測(cè)試儀

QT-3102-XX測(cè)試元件類型：三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT、二極體、可選SCR



支援雙DIE

1000W電源

過(guò)載欠壓保護(hù)

擴(kuò)充SCR

型號(hào) QT-3102
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) QT-3102-XX測(cè)試元件類型：三極體、場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT、二極體、可選SCR
R26：可以內(nèi)建在QT-4100的DC測(cè)試項(xiàng)目?jī)?nèi)實(shí)現(xiàn)高功率內(nèi)建熱阻測(cè)試
R26：透過(guò)scanbox可以實(shí)現(xiàn)Dual Die測(cè)試
主要特點(diǎn) ? 最大電流、最高電壓視機(jī)型而定，最大電流分別有20A，50A
? 最大電壓分別有100V，200V




Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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