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第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
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分類
 
QT-6000 分立元件高速測試系統(tǒng)

QT-6000分立元件高速測試機(jī)，適用於測試中小功率二三極體、場效電晶體等產(chǎn)品及晶圓，可拓展內(nèi)建電容測試（DC+CAP）、EAS、VC、pA模組，也可擴(kuò)充外掛LCR( 超高精度電容測試)、Scanbox等，應(yīng)用於FT量產(chǎn)測試或?qū)嶒?yàn)室測試。



懸浮電源

四象限電路

高速測試

支援多種擴(kuò)展

型號 QT-6000
產(chǎn)品優(yōu)勢 ? QT-6000分立元件高速測試機(jī)，具備測試精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、可靠性高、抗干擾能力強(qiáng)等性能優(yōu)點(diǎn)。
? 採用四象限電路，可以很好的保護(hù)被測元件。
? 採用懸浮電源和全對稱結(jié)構(gòu)。
? 高速測試滿足UPH56K以上的分選機(jī)。
主要特點(diǎn) ? 高速測試，UPH>40K
? 可一拖二實(shí)現(xiàn)100% FT+QA平行測試
? 先進(jìn)的電容高速測試方案，實(shí)現(xiàn)CAP+DC同工位測試
? 內(nèi)建UIS測試方案，實(shí)現(xiàn)DC+UIS同工位測試
? LCR精準(zhǔn)電容測試，最小測試電容值100fF




Testing standards檢測標(biāo)準(zhǔn)
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