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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
 
QT-8600RF 混合訊號(hào)射頻測(cè)試系統(tǒng)

RF6G 測(cè)試模組，應(yīng)用於高功率輸出、諧波測(cè)試、開關(guān)時(shí)間、插損、隔離、S11、Ron、Coff、同端迴路、IP3、雜散測(cè)試



懸浮電源

多Site並行

多通道高精度

支援多種擴(kuò)展

型號(hào) QT-8600RF 混合訊號(hào)射頻測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) RF6G 測(cè)試模組，應(yīng)用於高功率輸出、諧波測(cè)試、開關(guān)時(shí)間、插損、隔離、S11、Ron、Coff、同端迴路、IP3、雜散測(cè)試
主要特點(diǎn) ? DC、數(shù)位、RF一體成型機(jī)臺(tái)
? 16 個(gè)RF埠(8 in & 8 out)
? 6Ghz 射頻測(cè)量迴路，功率可配48dBm
? 自研射頻源闆卡與演算法，UPH較傳統(tǒng)提高90%以上
? 支援向量和標(biāo)量測(cè)試
? 數(shù)位滿足MIPI 50Mhz以上測(cè)試
? 支援2站RF並行測(cè)試，多站複合測(cè)試
? 為 RF開關(guān)、LNA、TUNER、濾波器等裝置提供追求卓越性價(jià)比的測(cè)試平臺(tái)。




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