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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
 
QT-8100 數(shù)?；旌螴C測(cè)試系統(tǒng) (Cable-Mount)

適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試及混合類及模擬類IC元件功能性測(cè)試。 主要測(cè)試：電源管理類，數(shù)位消費(fèi)類，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類，音頻放大器、運(yùn)算等。



懸浮電源

多Site並行

多通道高精度

支援多種擴(kuò)展

型號(hào) QT-8100
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

數(shù)?；旌螴C測(cè)試系統(tǒng)適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試及混合類及模擬類IC元件功能性測(cè)試。 主要測(cè)試：電源管理類，數(shù)位消費(fèi)類，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類，音頻放大器、運(yùn)算等

主要特點(diǎn) ? 懸浮V/I源，四象限
? 由測(cè)試盒引出全資源，8site並測(cè)
? 數(shù)位速率100Mhz，向量深度8M
? 真並測(cè)，多路1000V/20A高壓大電流
? 18 bit 高精密採(cǎi)樣
? 20 個(gè)類比插槽（Max 216通道）/ 8 個(gè)數(shù)位插槽（ Max 128通道）
? 多通道高精度時(shí)間測(cè)量單元，支援ns等級(jí)時(shí)間測(cè)量
? 支援RF模組擴(kuò)充
? PCIE 卡，測(cè)試效率更高




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